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提纲:1。雷电现象对电子产品造成的危害;2。雷电现象产生的原因;3。电子设备浪涌试验波形的选择;4。最新标准差异说明;5。实验环境及CDN的差异对实验结果的影响;6。高速通讯CDN中耦合器件对通讯速率影响量的介绍;7。通讯CDN的校准方法。

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